இந்த தளத்தின் உள்ளடக்கம் செயற்கை நுண்ணறிவு (AI) அல்லது இயந்திர மொழிபெயர்ப்பு தொழில்நுட்பம் மூலம் மொழிபெயர்க்கப்பட்டுள்ளது; பிழைகள் இருக்கலாம்.

Skip to content
Data Science

குறுகிய கால அளவீடுகள் மூலம் நீண்ட கால சோதனைத் தாக்கத்தை மதிப்பிடுவதற்கான ஒரு வெள்ளைப் பெட்டி கட்டமைப்பு

Author

வென் கியாங் தோ, வென்ஜிங் செங், யிடி வாங், ஜோவா டிகாஸ்

Venue

ACM KDD 4வது முனையிலிருந்து முனை வரையிலான வாடிக்கையாளர் பயண மேம்பாட்டுப் பயிலரங்கம்

Abstract

சோதனை முடிவுகளுக்கு பெரும்பாலும் நீண்ட கால சிகிச்சை விளைவுகள் மட்டுமல்லாமல், அடிப்படை காரண காரிய வழிமுறைகள் பற்றிய உள்ளுணர்வுகளும் தேவைப்படுகின்றன. குறுகிய கால முக்கிய அளவீடுகளை ஒரு நீண்ட கால வழிகாட்டியையும் அதன் இயக்கும் வழிமுறைகளையும் இணைப்பதன் மூலம் நீண்ட கால சிகிச்சை விளைவுகளை மதிப்பிடும் ஒரு ஒளிப்பொதி கட்டமைப்பை நாங்கள் முன்வைக்கிறோம். போலியான சோதனைத் தரவுகள் மற்றும் உண்மையான சோதனைத் தரவுகளைப் பயன்படுத்தி சரிபார்ப்பு முறைகளையும் நாங்கள் அறிமுகப்படுத்துகிறோம். மேலும், ஒரு சோதனைத் தளத்தில் மதிப்பீடு மற்றும் வரிசைப்படுத்தல் பரிசீலனைகளை நாங்கள் கோடிட்டுக் காட்டுகிறோம்.